{"product_id":"ieej-zt192042","title":"受配電設備絶縁物の劣化度スクリーニング技術","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e2-042\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成31年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2019\/03\/01\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eDeterioration degree screening technique of insulators for power distribution equipment\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e藤原 宗一郎(三菱電機),西川 哲司(三菱電機),三木 伸介(三菱電機)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eSoichiro Fujihara|Tetsuji Nishikawa|Shinsuke Miki\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e絶縁物,受配電設備\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e受配電設備の信頼性に大きく影響する絶縁物の劣化度を診断する技術が望まれている。当社では、絶縁物の化学的評価結果とマハラノビス・タグチ（MT）法を用いた劣化診断技術を開発してきた。しかし、現行診断では、設備停電時に絶縁物からイオン量や色彩値等の煩雑な測定を実施する必要がある。 本報告では、簡易に絶縁物の劣化度をスクリーニング可能な技術の開発に向けて、これまでの診断で蓄積されたデータを用いて劣化推定モデルを構築し、設置環境データ（温湿度等）から、絶縁物の余寿命を推定した結果を報告する。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e378 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46401723859183,"sku":"IEEJ-ZT192042-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_aa2e04d6-4e29-4598-931a-11d18a841759.png?v=1744952428","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt192042","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}