{"product_id":"ieej-zt193106","title":"リングオシレータPUFに対する階層的進化戦略を用いた解析手法","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e3-106\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成31年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2019\/03\/01\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eAnalysis Method using Hierarchical Evolutionary Computation for Ring Oscillator PUF\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e梅田 大知(名城大学),野崎 佑典(名城大学),吉川 雅弥(名城大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eTaichi Umeda(Meijo University),Yusuke Nozaki(Meijo University),Masaya Yoshikawa(Meijo University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e物理的複製不可能関数,遺伝的アルゴリズム,ハードウェアセキュリティ\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e電子機器の模造品被害が問題になっている．そこで，模造品対策として，半導体の物理的な製造ばらつきをIDとして認証に利用する物理的複製不可能関数（PUF）が注目されている．しかし近年，PUFの認証IDを複製するモデル化解析の脅威が報告されている．また，我々はこれまで，遺伝的アルゴリズムを用いたモデル化解析手法を提案してきた．PUFの安全性評価のため，より効率的な手法について検討することは非常に重要である．そこで，本論文では，これまでの研究をベースに新たな解析手法を提案する．提案手法では，モデルの修正処理を導入することでモデル化精度を改善する．また，評価実験により，提案手法の有効性を示した．\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e394 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 2","offer_id":46401735885039,"sku":"IEEJ-ZT193106-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_db345a3f-b910-46f9-afaa-7988c9f9cb2e.png?v=1744953238","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt193106","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}