{"product_id":"ieej-zt194014","title":"SiC MOSFETの負荷短絡試験におけるゲート漏れ電流と破壊メカニズムの評価解析","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e4-014\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成31年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2019\/03\/01\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eInvestigation of gate leakage current and failure mechanism in short-circuit test of SiC MOSFET\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e大川 雅貴(筑波大学),飯嶋 竜司(筑波大学),岡本 大(筑波大学),矢野 裕司(筑波大学),岩室 憲幸(筑波大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eMasataka Okawa(University of Tsukuba),Ryuji Iijima(University of Tsukuba),Dai Okamoto(University of Tsukuba),Hiroshi Yano(University of Tsukuba),Noriyuki Iwamuro(University of Tsukuba)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eSiC MOSFET,負荷短絡耐量,ゲート漏れ電流,テール電流,熱暴走\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003eプレーナーSiC MOSFETの負荷短絡試験における、デバイス破壊メカニズムとゲート漏れ電流の関係について評価解析を行った。負荷短絡試験において、SiC MOSFETでは短絡状態が続くことによるゲート漏れ電流の増加を確認した。特に、低印加電圧では熱暴走による破壊よりも先に、デバイス内温度上昇によるゲート漏れ電流が増加することにより素子破壊が引き起こるというSiC MOSFET特有の破壊メカニズムについて、ゲート漏れ電流の測定からその妥当性を確認した。また高印加電圧において、デバイス内温度上昇によるゲート漏れ電流の増加及びゲート酸化膜の絶縁性劣化の蓄積を確認した。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e1,001 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 2","offer_id":46401743847663,"sku":"IEEJ-ZT194014-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_d0e063a0-4700-4fb1-885c-1d29ea7f543d.png?v=1744953761","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt194014","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}