{"product_id":"ieej-zt20201-049","title":"サブサーフェス磁気イメージングシステムの積層セラミックコンデンサへの適用","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e1-049\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】令和2年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2020\/03\/01\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eApplication of sub-surface magnetic imaging to multilayered ceramic capacitors\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e角真輝（千葉工業大学）,岡田英朗（千葉工業大学）,佐藤宣夫（千葉工業大学）\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eMasaki Sumi (Chiba Institute of Technology),Hideaki Okada (Chiba Institute of Technology),Nobuo Sato (Chiba Institute of Technology)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e積層セラミックコンデンサ|故障解析|サブサーフェス磁気イメージングシステム|セキソウセラミックコンデンサ|コショウカイセキ|サブサーフェスジキイメージングシステム\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e電源回路の小型化や高効率化を図るためには，回路素子における材料物性の評価，素子形状の熱的最適設計などのほか，機電機能体の性能向上と安全性の両立，全部品の劣化や破損に伴う故障解析が不可欠となる．その一例として，数 μm オーダの設計ルールで電極と誘電体が積層されているコンデンサについて，その内部状態の非破壊による検査が求めらている．本報告では，サブサーフェス磁気イメージングシステム（FOCUS-001，IGS 社特注）を用いて，積層セラミックコンデンサ(日本ケミコン社製：470μF)を観測対象とし，正常時と故障時の電流の通電経路を可視化した結果について述べる．\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e本誌掲載ページ: \u003c\/strong\u003e62-63 p\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46402110718191,"sku":"IEEJ-ZT20201-049-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_5e3f4057-4e43-4a44-aea1-533880de3c08.png?v=1744972798","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt20201-049","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}