{"product_id":"ieej-zt20202-001","title":"部分放電によるシリコーンゴム表面劣化の定量的評価","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e2-001\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】令和2年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2020\/03\/01\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eQuantitative Evaluation of Surface Deterioration of Silicone Rubber Caused by Partial Discharge\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e小松一輝（名古屋工業大学）,劉浩（名古屋工業大学）,伊藤悠紀（名古屋工業大学）,水野幸男（名古屋工業大学）\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eKazuki Komatsu (Nagoya Institute of Technology),Hao Liu (Nagoya Institute of Technology),Yuki Ito (Nagoya Institute of Technology),Yukio Mizuno (Nagoya Institute of Technology)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eシリコーンゴム|部分放電|劣化|表面粗さ|フラクタル|シリコーンゴム|ブブンホウデン|レッカ|ヒョウメンアラサ|フラクタル\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e高分子がいしとして用いられるシリコーンゴムに関して、耐部分放電劣化性能を評価するため試験を行っている。\n部分放電試験により劣化したシリコーンゴム試料表面の表面粗さ測定により算術平均粗さRaと粗さ曲線のフラクタル次元Dを得た。これらによりシリコーンゴム表面の部分放電劣化の進行を定量的に評価し、絶縁破壊の指標となる物理量を検討した。試験が進行するにつれてそれぞれ値は増加するが、複数の試験結果から絶縁破壊時の値はRaにはばらつきがあり、Dはおおよそ同じ値を得た。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e本誌掲載ページ: \u003c\/strong\u003e1-2 p\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46402117697775,"sku":"IEEJ-ZT20202-001-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_08fee126-4327-45b3-b60d-ca8e40fa130f.png?v=1744973151","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt20202-001","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}