{"product_id":"ieej-zt20204-106","title":"直流バイアス磁界下におけるギャップインダクタの低損失設計法","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e4-106\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】令和2年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2020\/03\/01\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eLow Loss Design Method for Gap Inductor under DC bias magnetic field\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e小島立寛（首都大学東京）,清水敏久（首都大学東京）\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eTatsuhiro Kojima (Tokyo Metropolitan University),Toshihisa Shimizu (Tokyo Metropolitan University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eギャップインダクタ|鉄損|ロスマップ|ギャップインダクタ|テッソン|ロスマップ\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e半導体電力変換回路に用いられるインダクタの低損失化にあたり，鉄損を定量的に把握する手法として，筆者らはロスマップ法を提案し，磁性体内部の直流磁界に対する鉄損の変化を表記する手法を提案した。しかし，チョッパ用インダクタなどでは直流重畳による磁気飽和を防止するために，磁路ギャップを挿入するが，磁路ギャップ長と全損失の関係について定量的考察は十分に行われていないと考えられる。そこで本論では，ギャップ長に対する鉄損および銅損の定量的な計算を行い，ギャップ付きインダクタの低損失設計手法に関する基礎検討を行ったので報告する。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e本誌掲載ページ: \u003c\/strong\u003e169-170 p\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46402146107631,"sku":"IEEJ-ZT20204-106-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_70ee2766-9c20-4789-95dc-0d1f044fae4c.png?v=1744974733","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt20204-106","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}