{"product_id":"ieej-zt20211-045","title":"サブサーフェス磁気イメージングシステムの整流ダイオードへの適用","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e1-045\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】令和3年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2021\/03\/01\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eApplication of Sub - Surface Magnetic Imaging to Rectifier Diode\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e角真輝（千葉工業大学）,佐藤宣夫（千葉工業大学）\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eMasaki Sumi (Chiba Institute of Technology),Nobuo Satoh (Chiba Institute of Technology)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e整流用ダイオード|電流経路画像|サブサーフェス磁気イメージングシステム|故障解析|非破壊検査技術|Rectifier Diode|Current Path Image|Sub-Surface Magnetic Imaging System|Failure Analyses|Non-Destructive Evaluation Technology\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e様々な電気電子回路において，整流用ダイオードの整流特性を利用した回路設計が確立されている．特に，電源回路における整流用ダイオードは逆流防止保護機能を担い，その故障が回路機能不全へと波及するため，電源回路内の素子として高い耐圧性能が求められる．そのため，劣化や破損に伴う故障解析が必要不可欠であり，整流用ダイオードの動作状態の非破壊による検査手法の確立が求められている．本報告では，サブサーフェス磁気イメージングシステム（FOCUS-001，IGS 社特注）を用いて，整流用ダイオード(ON Semiconduc\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e357 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46401968210159,"sku":"IEEJ-ZT20211-045-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_58c27b60-2e7f-4c82-b73d-5c4eddf074dd.png?v=1744964961","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt20211-045","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}