{"product_id":"ieej-zt20213-008","title":"ガードリングにNwellを用いたCMOS_APDの高耐圧化","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e3-008\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】令和3年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2021\/03\/01\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eHigh voltage protection avalanche photodiode using n-well guard ring with a standard CMOS process\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e北村樹麗（長野工業高等専門学校）,高橋青（長野工業高等専門学校）,淀優介（長野工業高等専門学校）,秋山正弘（長野工業高等専門学校）\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eKirara Kitamura (National Institute of Technology (KOSEN), Nagano College),Jo Takahashi (National Institute of Technology (KOSEN), Nagano College),Yusuke Yodo (National Institute of Technology (KOSEN), Nagano College),Masahiro Akiyama (National Institute \u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eAPD|CMOSプロセス|N-well|ガードリング|高耐圧化|ブレークダウン電圧|APD|CMOS process|N-well|Guard ring|High withstanding|Breakdown voltage\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e近年、様々な分野で小型・高感度な分光技術が必要とされている。我々は分光イメージセンサとして、増倍率の波長依存特性を利用した、CMOS_APDを用いた分光を提案してきた。しかし、我々が製作したCMOS_APDはブレークダウン電圧が低い、という欠点があった。そこで、CMOS_APDの構造を変形することで、ブレークダウン電圧を高くし、高耐圧化されたCMOS_APDを製作することにした。本研究では、ブレークダウン電圧の上昇に有用とされるガードリングを、Nwellを用いて製作し、高耐圧化が可能であるか検討した。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e434 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46401974665455,"sku":"IEEJ-ZT20213-008-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_0ef07d6e-dba8-4473-b441-ed03f96e3770.png?v=1744965403","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt20213-008","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}