{"product_id":"ieej-zt20214-009","title":"GaN向けデジタルゲートドライバICによる損失の69%減と電流オーバーシュートの60%減","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e4-009\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】令和3年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2021\/03\/01\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eDigital Gate Driver IC for GaN Achieving 69 % Reduction of Switching Loss and 60 % Reduction of Current Overshoot\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e堅田龍之介（東京大学）,畑勝裕（東京大学）,山内善高（東京大学）,王廷維（国立交通大学）,森川隆造（東京大学）,呉承軒（東京大学）,崔通（東京大学）,陳柏宏（国立交通大学）,高宮真（東京大学）\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eKatada Ryunosuke (The University of Tokyo),Hata Katsuhiro (The University of Tokyo),Yamauchi Yoshitaka (The University of Tokyo),Wang Ting-Wei (National Chiao Tung University),Morikawa Ryuzo (The University of Tokyo),Wu Cheng-Hsuan (The University of Toky\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eゲートドライバ|窒化ガリウム|ターンオン|スイッチング損失|電流オーバーシュート|Gate Driver|Gallium Nitride|Turn On|Switching Loss|Current Overshoot\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003eGaN FETは低いオン抵抗と高速スイッチングが可能なパワーデバイスであるが、その高速性によってスイッチング時に大きな電圧・電流オーバーシュートが発生する問題がある。一般に、スイッチング損失（ELOSS）と電流オーバーシュート（IOVERSHOOT）はトレードオフの関係にある。デジタルゲートドライバ（DGD）を用いて、ELOSS及びIOVERSHOOTの両方を削減する報告があるが、GaN向けのDGDでは、DGDのパラメータが手動で調整されており最適動作が実現されていない。そこで、本報告では、GaN向けに開\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e400 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46401967096047,"sku":"IEEJ-ZT20214-009-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_1819e2c4-53a0-4324-b36f-5959b37ac7f1.png?v=1744964847","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt20214-009","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}