{"product_id":"ieej-zt20216-052","title":"低圧開閉器の多数回開閉における接点消耗予測","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e6-052\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】令和3年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2021\/03\/01\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eEstimation of Contact Erosion under Frequent Switching in Low Voltage Switch\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e堀田克輝（三菱電機）,稲垣省吾（三菱電機）,竹本智彦（三菱電機）,稲口隆（三菱電機）\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eKatsuki Hotta (Mitsubishi Electric Corporation),Shogo Inagaki (Mitsubishi Electric Corporation),Tomohiko Takemoto (Mitsubishi Electric Corporation),Takashi Inaguchi (Mitsubishi Electric Corporation)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e低圧|開閉器|アーク|接点|消耗|Low Voltage|Switch|Arc|Contact|Erosion\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e低圧気中開閉器には負荷電流の多数回開閉責務があり，その接点寿命性能を推定する技術が接点設計に必要である．今回，接点厚みの変化によるアークエネルギ推移を考慮することで，多数回開閉における接点消耗を予測できることを明らかにした．\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e388 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46401953235183,"sku":"IEEJ-ZT20216-052-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_cbd6df3d-a483-442e-a730-8304156a3462.png?v=1744963482","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt20216-052","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}