{"product_id":"ieej-zt20223-018","title":"ボクセル分割に基づく密度不均一な点群のための欠損抽出","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e3-018\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】令和4年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2022\/03\/01\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eA Method of Defect Extraction for Point Clouds with Non-Uniform Density Based on Voxel Segmentation\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e永井太樹（大阪工業大学）,村木祐太（大阪工業大学）,手島裕詞（佐世保工業高等専門学校）,小堀研一（大阪工業大学）\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eTaiki Nagai (Osaka Institute of Technology),Yuta Muraki (Osaka Institute of Technology),Yuji Teshima (National Institute of Technology, Sasebo College),Kenichi Kobori (Osaka Institute of Technology)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e点群|欠損検出|三次元計測|point cloud|defect detection|Three-dimensional measurement\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e3Dスキャナで実物体を点群データとして取得する際に，欠損が含まれる場合がある。欠損は，検出や補間を行う必要がある。しかし，欠損検出の従来手法では，点群の密度の影響を受ける点や，閾値を手動で設定する点が問題となっている。そこで，本研究では，ボクセル分割を利用した欠損の自動抽出を行う。まず，入力点群をボクセル化し，点の密度を算出する。次に，注目ボクセルと周囲のボクセルの平均密度から，非欠損点を算出する。最後に，従来手法で算出した欠損候補点から非欠損点を減算し，欠損検出を行う。また，ボクセルの分割数と従来手法の閾値を自動で決定する。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e本誌掲載ページ: \u003c\/strong\u003e27-28 p\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e367 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46402016837871,"sku":"IEEJ-ZT20223-018-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_b3dc4792-7dc5-4f29-a268-d8ec781364d3.png?v=1744968837","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt20223-018","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}