{"product_id":"ieej-zt20254-092","title":"チョッパ回路におけるVCE（sat）を用いたIGBTモジュールの熱抵抗とボンディングワイヤ抵抗の分離観測","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e4-092\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】令和7年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2025\/03\/01\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル：\u003c\/strong\u003eチョッパ回路における\u003cem\u003eV\u003c\/em\u003e\u003csub\u003eCE（sat）\u003c\/sub\u003eを用いたIGBTモジュールの熱抵抗とボンディングワイヤ抵抗の分離観測\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eSeparate observation of thermal resistance and bonding wire resistance of an IGBT module using \u003cem\u003eV\u003c\/em\u003e\u003csub\u003eCE (sat) \u003c\/sub\u003e in a chopper circuit\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e郷田幸児（九州工業大学）,長谷川一徳（九州工業大学）,齋藤渉（九州大学）\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eKoji Goda (Kyushu Institute of Technology),Kazunori Hasegawa (Kyushu Institute of Technology),Wataru Saito (Kyushu University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eIGBT|熱抵抗|ボンディングワイヤ|VCE(sat)|チョッパ回路|IGBTs|thermal resistance|bonding wire|VCE(sat)|chopper circuit\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003eIGBT ( Insulated Gate Bipolar Transistor )の劣化は，ボンディングワイヤ接合部の劣化と絶縁基板と銅ベースの接合に使用されるはんだ層の劣化の2種類に大別されるため，故障分析にあたってはこれらの要因の分離が必要である。本論文では，チョッパ回路においてIGBTモジュールの劣化前後のV\u003csub\u003eCE(sat)\u003c\/sub\u003eを用いた劣化原因の分離方法を提案し，1200 V IGBTを用いた実験によりその有効性を実証する。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e本誌掲載ページ: \u003c\/strong\u003e147-149 p\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e896 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 2","offer_id":46476880838895,"sku":"IEEJ-ZT20254-092-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_e9353d48-8a27-418a-9e9a-e13bb7c1ba69.png?v=1747993484","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt20254-092","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}