{"product_id":"ieej-zt20254-093","title":"ディスクリートSiC-MOSFETスイッチング波形の機械学習を用いたパワーサイクル劣化検出","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e4-093\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】令和7年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2025\/03\/01\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003ePower Cycle Degradation Detection Using Machine Learning of Discrete SiC-MOSFET Switching Waveforms\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e出井和音（九州大学）,MameeThatree（九州大学）,MuellerJonas（ブレーメン大学）,LutzenHauke（ブレーメン大学）,KaminskiNando（ブレーメン大学）,西澤伸一（九州大学）,齋藤渉（九州大学）\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eKazune Idei (Kyushu University),Thatree Mamee (Kyushu University),Jonas Mueller (University of Bremen),Hauke Lutzen (University of Bremen),Nando Kaminski (University of Bremen),Shin-ichi Nishizawa (Kyushu University),Wataru Saito (Kyushu University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eSiC-MOSFET|パワーサイクル劣化|ワイヤリフトオフ|畳み込みニューラルネットワーク|SiC-MOSFET|Power Cycling Degradation|Wire Lift-Off|Convolutional Neural Network\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003eパワーデバイスの故障原因として，パワーサイクル劣化がある。本研究では実働のシステムの故障・寿命を検出するために，機械学習でスイッチング波形を解析しパワーサイクル劣化検出を行う。本稿では，ディスクリートSiC-MOSFETのスイッチング波形を用いたパワーサイクル劣化検出手法において，解析に使用する検出信号や，測定に用いるM-Shuntの種類を変更した場合の正解率を比較し，測定手法の有効性を検討した。結果より，V\u003csub\u003egs\u003c\/sub\u003eを利用することで，Turn-offおよびTurn-onのいずれにおいても\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e本誌掲載ページ: \u003c\/strong\u003e149-151 p\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e486 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 2","offer_id":46476880871663,"sku":"IEEJ-ZT20254-093-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_0422bf55-12f3-49fd-8f69-4e16fb56da1a.png?v=1747993488","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt20254-093","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}