{"product_id":"ieej-zt20254-094","title":"パワーサイクル試験における定電流化を目的とした電流調節回路","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e4-094\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】令和7年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2025\/03\/01\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eCurrent Regulation Circuit for Power Cycling Test\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e出本悦也（千葉工業大学）,佐々木凛太郎（千葉工業大学）,林真一郎（千葉工業大学）,和田圭二（東京都立大学）\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eEtsuya Idemoto (Chiba Institute of Technology),Rintaro Sasaki (Chiba Institute of Technology),Shin-Ichiro Hayashi (Chiba Institute of Technology),Keiji Wada (Tokyo Metropolitan University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e加速劣化試験|長期信頼性|ゲート駆動回路|パワー半導体デバイス|accelerated aging test|long-term reliability|gate drive circuit|power semiconductor devices\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e本研究で提案する一定電流を流すパワーサイクル試験の並列化において，DUTに同一電流を流し続けるための電流調節回路を開発した。回路の構成として，電流センサにより試験電流のセンシングを行い，MOSFETのゲート電圧を可変することで流れる電流の制御を行う。回路内のMOSFETを選定するために，オン抵抗のゲート電圧依存性をシミュレーションにより検証した。その結果，オン抵抗の調節にはSiC MOSFETが適していることを明らかとした。開発した回路で動作検証を行い，ゲート電圧の指令値を変化させることで，オン抵抗を変化\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e本誌掲載ページ: \u003c\/strong\u003e151-152 p\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e699 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46476880904431,"sku":"IEEJ-ZT20254-094-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_3e010766-c4e1-4231-b608-94bc8bf88b30.png?v=1747993491","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt20254-094","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}