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時空間オペランドX線分光による表面電子捕獲の時空間ダイナミクス研究

時空間オペランドX線分光による表面電子捕獲の時空間ダイナミクス研究

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カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: EDD21025

グループ名: 【C】電子・情報・システム部門 電子デバイス研究会

発行日: 2021/02/28

タイトル(英語): Spatiotemporal dynamics of surface electron trapping by using spatiotemporal operando x-ray spectromictoscopy

著者名: 吹留 博一(東北大学)

著者名(英語): Hirokazu Fukidome(Tohoku University)

キーワード: 電流コラプス現象|表面電子捕獲|X線分光|オペランド|current collapse phenomena|surface electron trapping|x-ray spectroscopy|operando

要約(日本語): GaN-HEMTのコラプス現象を引き起こす表面電子捕獲の時空間ダイナミクスを、動作しているデバイスの時空間ダイナミクスを調べるオペランド時空間X線分光を用いて調べた。その結果、表面電子捕獲が起こる領域が時間スケールにより変化することを定量的に明らかにすることに成功した。観測結果に基づき,表面電子捕獲メカニズムを新たに提案した。

要約(英語): We have studied spatiotemporal dynamics of surface electron trapping by using spatiotemporal operando (= observation under device operation conditions) x-ray spectroscopy. As a result, we succeeded in quantitatively observing the spatiotemporal dynamics of surface electron trapping. Based on the observation, we newly propose the mechanism of surface electron trapping.

本誌: 2021年3月3日電子デバイス研究会

本誌掲載ページ: 5-10 p

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 857 Kバイト

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