模擬細胞を用いたパルス電界印加時に起こる細胞膜の絶縁破壊による活性種発生の調査

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: EPP21035

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門 放電・プラズマ・パルスパワー研究会

発行日: 2021/05/17

タイトル(英語): Investigation of active species generation by dielectric breakdown of cell membrane at applying pulsed electric field using simulated cell

著者名: 市川 正貴(山形大学),水野 寿哉(山形大学),佐藤 鴻(山形大学),齋藤 高輝(山形大学),南谷 靖史(山形大学)

著者名(英語): Masaki Ichikawa(Yamagata University),Toshiya Mizuno(Yamagata University),Ko Sato(Yamagata University),Koki Saito(Yamagata University),Yasushi Minamitani(Yamagata University)

キーワード: 細胞膜|パルス電界|絶縁破壊|ネクローシス|アポトーシス|活性種|Cell membrane|Pulse electric field|Dielectric breakdown|Necrosis|Apoptosis|Reactive oxygen species

要約(日本語): 細胞はパルス電界印加時には膜破壊によるネクローシスで死亡するが，中にはアポトーシスが誘導されたときに起こるフォスファチジルセリンの膜外露出を引き起こしている細胞もあった。それには細胞膜の絶縁破壊によって発生した活性種(ROS)が関与していると考えている。細胞はROSの発生要因を内部の細胞小器官に持つので，細胞膜だけの模擬細胞を作成しパルス電界を印加し細胞膜の破壊とROSの発生状況を調べた。

要約(英語): Cells cause necrosis due to membrane destruction when a pulsed electric field is applied. However, some cells cause extramembrane exposure of phosphatidylserine that occurs when apoptosis is induced. It is guessed that this phenomenon involves reactive oxygen species (ROS) generated by dielectric breakdown of cell membranes. Since cells have ROS generation factors in organelles, we prepared simulated cells with only a cell membrane and applied the pulsed electric field to investigate the destruction of the cell membranes and the state of ROS generation.

本誌: 2021年5月20日-2021年5月21日放電・プラズマ・パルスパワー研究会

本誌掲載ページ: 13-16 p

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,079 Kバイト