オングストロームビーム電子回折による非晶質材料の局所構造解析

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: EFM21002

グループ名: 【C】電子・情報・システム部門 電子材料研究会

発行日: 2021/11/15

タイトル(英語): Local structure analysis of amorphous materials by angstrom-beam electron diffraction

著者名: 平田 秋彦(早稲田大学)

著者名(英語): Akihiko Hirata(Waseda University)

要約(日本語): アモルファス材料は結晶のような規則的な原子配列を持たないため、その詳細はいまだ不明な点が多い。これまでは2体分布解析と呼ばれる平均的な構造解析が中心であったが、本研究では電子線をサブナノメートルスケールまで絞ることにより直接局所構造の情報を取得することを試みた。その結果、リチウムイオン電池の負極材として期待されるSiOがナノスケールの特徴的な不均化構造を有することを明らかとした。

要約(英語): Details of disordered amorphous structures have not been established yet. To unveil the details, we have developed angstrom-beam electron diffraction technique that enables to see local atomic configurations directly. We have applied this technique to the disproportionated amorphous SiO material, which is one of the candidates for electrodes of the next-generation Li-ion batteries.

本誌: 2021年11月18日-2021年11月19日電子材料研究会-1

本誌掲載ページ: 5-5 p

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 230 Kバイト