多端子MOSFETによる貫通電流の間接計測の考察

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: ECT22033

グループ名: 【C】電子・情報・システム部門 電子回路研究会

発行日: 2022/06/06

タイトル(英語): A Consideration of the Indirect Measurement for the Through-Current using Multi-Output MOSFET

著者名: 原田 知親(山形大学)

著者名(英語): Tomochika Harada(Yamagata University)

キーワード: 多端子ＭＯＳＦＥＴ|貫通電流|間接計測|multi-output MOSFET|through current|indirect measurement

要約(日本語): 過去に本研究室で多端子MOSFETによる貫通電流の間接計測についての計測結果を発表したが、実験結果に対する動作原理の検証や考察がなされていなかったため、本研究では測定結果と動作原理を照らし合わし、本発表の有効性を考察する。

要約(英語): In this paper, I report whether it can be used for indirect measurement of the through current during circuit operation by making the best use of the proposed operating characteristics of multi-terminal MOSFETs.

本誌: 2022年6月9日-2022年6月10日電子回路研究会

本誌掲載ページ: 57-60 p

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,807 Kバイト