歯形付導体板の歯形幅比に対する反射散乱特性－垂直偏波（TM波）入射－

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: EMT22035

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門 電磁界理論研究会

発行日: 2022/06/20

タイトル(英語): Reflection and scattering characteristics versus span ratio of corrugated conducting plane

著者名: 平野 誠(防衛装備庁次世代装備研究所飯岡支所),松林 一也(防衛装備庁次世代装備研究所飯岡支所),髙熊 亨(防衛装備庁次世代装備研究所飯岡支所)

著者名(英語): Makoto HIRANO(Iioka Branch, Future Capabilities Development Center, Acquisition, Technology and Logistics Agency),Kazuya MATSUBAYASHI(Iioka Branch, Future Capabilities Development Center, Acquisition, Technology and Logistics Agency),Toru TAKAKUMA(Iioka B

キーワード: 歯形付導体板|周期構造|反射係数|散乱係数|幅比|反射抑制制御|Corrugated Conducting Plane|Periodic Structure|Reflection Coefficient|Scattering Coefficient|Span ratio| Reflection Control

要約(日本語): 垂直偏波が歯形付導体板に入射した際に反射散乱係数を求めるための基礎方程式を用いて、歯形の幅比W/Lを変化させた場合の反射散乱係数を算出した。_x000D_ 反射係数は、幅比が0～1の間の0.5近辺で極小となるが、必ずしも正確に0.5になるとは限らない。反射が効果的に抑圧される比帯域を、歯形の高さに対する反射係数特性から導出し、-20dBの比帯域が約12％であることがわかった。_x000D_ 本構造により反射抑制制御が可能であることを定量的に示した。

要約(英語): Using the governing equation solved for reflection and scattering coefficients if vertical polarized wave (TM wave) is incident to corrugated conducting plane with incident angle θi, we obtained the reflection and scattering coefficients corresponding to the corrugation span ratio W/L in case of perpendicular incident. The reflection coefficients have local minimum between the ratio 0～1 around at 0.5(=1:1), but not necessarily at W/L =0.5 exactly. The relative band width effective for reflection reduction is derived from the characteristics of the coefficient versus corrugation height, it is confirmed that reflection becomes －20dB over the relative band width about 12%. We show quantitatively this structure can control reduction of reflection.

本誌: 2022年6月23日電磁界理論研究会

本誌掲載ページ: 29-34 p

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,084 Kバイト