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修復誤差を用いた適応的ドットスキャン方法

修復誤差を用いた適応的ドットスキャン方法

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カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: ST22010,CT22071

グループ名: 【C】電子・情報・システム部門 システム/【C】電子・情報・システム部門 制御合同研究会

発行日: 2022/06/20

タイトル(英語): Adaptive dot-scanning method with repair error

著者名: 三枝 将太郎(東海大学),高橋 智博(東海大学)

著者名(英語): Shotaro Saigusa(Tokai University),Tomohiro Takahashi(Tokai University)

キーワード: 画像修復|レーザー撮像器|KTN結晶|image inpainting|laser imager|KTA crystal

要約(日本語):  KTN結晶を用いたレーザー撮像器は、計測回数を多く取るほど解像度を向上させることができるが、大量の観測を要するため、測定時間が長くなってしまう。_x000D_  本稿では、過去のスキャン結果とその修復結果をもとに、次のスキャンの確率密度分布を決定することで、適切なドットスキャンを行う方法を提案する。一様な重みでランダムスキャンされた画像と比較した結果、提案するスキャン方法が、より精度の良い処理結果が得られた。_x000D_

要約(英語): Laser imagers using KTN crystals can observe a large number of measurements to obtain a high-resolution image, but it requires a large number of observations to obtain high-resolution images, which increases the measurement time._x000D_ In this paper, we propose a method to perform appropriate dot scanning by determining the probability density distribution of the next scan based on the results of previous scans and their repair. Compared to randomly scanned images with uniform weights, the proposed scanning method produces more accurate processing results._x000D_

本誌: 2022年6月23日システム/制御合同研究会

本誌掲載ページ: 13-18 p

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 3,432 Kバイト

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