隣接する発振器間の電磁カップリングノイズ解析

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: ECT22068

グループ名: 【C】電子・情報・システム部門 電子回路研究会

発行日: 2022/12/06

タイトル(英語): Electromagnetic coupling noise analysis between adjacent oscillators

著者名: 榎 一将(大阪工業大学),吉村 勉(大阪工業大学)

著者名(英語): Kazuma Enoki(Osaka Institute of Technology),Tsutomu Yoshimura(Osaka Institute of Technology)

キーワード: 大規模集積回路（ＬＳＩ）|電圧制御発振器（ＶＣＯ）|位相同期回路（ＰＬＬ）|電磁カップリングノイズ|電磁界シミュレータ|ノイズ感度関数（ＩＳＦ）|Large-Scale Integrated Circuits (LSI)|Voltage-controlled oscillator (VCO)|Phase locked loop(PLL)|Electromagnetic coupling noise|Electromagnetic field simulator| Impulse sensitivity f

要約(日本語): 大規模集積回路(LSI)では電圧制御発振器（VCO）のコイルと別のコイルが干渉し電磁ノイズを引き起こすことで誤動作が生じ、望む出力を得られないことが問題になっている。本発表では電磁界シミュレータを用いたコイル間の距離を変化させたときのSパラメータを元に、ノイズ感度関数（ISF）の導出を行った。さらに発振器の相互干渉によるPLL回路の不安定条件とコイル間距離の関係を求め、隣接する発振器に関する実装上の設計指針を示した。

要約(英語): In large-scale integrated circuits (LSI), the problem is that the coil of the voltage-controlled oscillator (VCO) and the other coil interfere with each other, causing electromagnetic noise, causing malfunction and not being able to obtain the desired output. In this presentation, the noise sensitivity function (ISF) was derived based on the S-parameters when the distance between coils using the electromagnetic field simulator was varied. Furthermore, the relationship between the unstable conditions of the PLL circuit due to mutual interference of oscillators and the distance between coils was determined, and implementation design guidelines for adjacent oscillators were shown.

本誌: 2022年12月9日電子回路研究会

本誌掲載ページ: 43-47 p

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,452 Kバイト