MASH型ΔΣADCにおけるアナログ特性変動の補償方法の検討

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: ECT22072

グループ名: 【C】電子・情報・システム部門 電子回路研究会

発行日: 2022/12/06

タイトル(英語): A study of the compensation method for the accuracy degradation due to change of analog characteristics

著者名: 山田 貴裕(青山学院大学),松谷 康之(青山学院大学)

著者名(英語): Takahiro Yamada(Aoyama Gakuin University Graduate School),Yasuyuki Matsuya(Aoyama Gakuin University)

キーワード: ΔΣＡＤＣ|ＭＡＳＨ|オペアンプ|素子偏差|高精度化|ΔΣ A/D converter|MASH|Operational amplifier|Deviation of analog element|High accuracy

要約(日本語): 高精度なAD変換が可能なMASH型ΔΣADCはアナログ積分特性とデジタル微分特性に逆特性が求められる。しかし、積分特性がオペアンプ利得と素子偏差により変化し、精度劣化が生じる。オペアンプ利得補正方法として論理回路を用いて完全な逆特性を実現する手法が提案されているが、素子偏差による精度劣化が生じる。本研究では積分器に直流信号を入力し、出力ランプ波の傾きから素子偏差を検出する補正方法を検討した。

要約(英語): The MASH structure which realizes high-accuracy A/D conversion had been proposed. Inverse characteristics between analog integral and digital differential characteristics are required to the MASH structure. However, the integral characteristic changes due to operational amplifier gain and element deviations. To improve the degradation of SNR by low amplifier gain, we proposed the compensation method of an operational amplifier gain by logical function. In this report, we propose the method for detecting element deviations and compensating the degradation of SNR. The element deviation is detected from the slope of the integrator output ramp wave by DC signal input.

本誌: 2022年12月9日電子回路研究会

本誌掲載ページ: 65-70 p

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,297 Kバイト