歯形付導体板の歯形幅比に対する反射散乱特性に関する検討 －垂直偏波（TM波）入射－

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: EMT23002

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門 電磁界理論研究会

発行日: 2023/01/20

タイトル(英語): Study on reflection and scattering characteristics versus span ratio of corrugated conducting plane -Vertical polarization incidence-

著者名: 平野 誠(防衛装備庁次世代装備研究所飯岡支所),松林 一也　(防衛装備庁次世代装備研究所飯岡支所),高熊 亨(防衛装備庁次世代装備研究所飯岡支所)

著者名(英語): Makoto Hierano(Iioka Branch, Future Capabilities Development Center, Acquisition, Technology and Logistics Agency),Kazuya Matsubayashi(Iioka Branch, Future Capabilities Development Center, Acquisition, Technology and Logistics Agency),Toru Takakuma(Iioka

キーワード: 歯形付導体板|周期構造|反射係数|極大点|幅比|反射抑制制御|Corrugated Conducting Plane|Periodic Structure|Reflection Coefficient|Local Maximum|Span Ratio|Reflection Control

要約(日本語): 歯形付導体板に，垂直偏波（TM波）が垂直入射（θi＝0°）した際の歯形幅比に対する反射散乱係数の極大・極小について，基礎方程式を解いて解析した。_x000D_ 歯形の幅比（スロット幅／歯形周期） が0～1の間に現われる極大点は，周期 L＞1.7λ のとき出現し、周期 L が大きいほど鋭く，極大点を与える幅比は、周期L に対し、傾きが負の1次直線（単調減少）で変化することがわかった。また，スロット内に起こる主なモードの振幅を求めたところ，周期 Lが1.7λ より増加するに従い、スロット内の振幅Bmのうちm＝2がm＝0に対し急増することがわかった。しかし，反射係数A0の極大・極小に関わるのは，この急増するm＝2ではなく主にm＝0であることも判明した。_x000D_ 反射係数A0が極大となる振幅B0 の条件は、実部・虚部共に幅比の逆数であり，反射係数A0が極小となる条件は、実部が約0.1以下、虚部は幅比の逆数であることがわかった。_x000D_

要約(英語): In this report, using the governing equation solved for reflection and scattering coefficients if vertical polarized wave (TM wave) is incident to corrugated conducting plane with incident angle θi , we studied about the local maximum point that appears between the corrugation span ratio W/L :0～1. In this point, incident wave is perfectly reflected, therefore the reflection coefficient becomes 1, and the scattering coefficient is reduced to 0. As a detail analysis of mode amplitude in the slot region, the reflection coefficient is mainly the function of span ratio W/L and amplitude of mode m=0 in the slot region. And the mode m=2 generates larger compared to other order modes in the region but little affects to the reflection coefficients. The conditions of span ratio W/L for local maximum reflection and local minimum reduction are derived from the simplified equation of the reflection coefficient. It is appeared a kind of resonant phenomenon is occurred at the local maximum point and these reflection coefficient is determined by the amplitude of mode m=0 in the slot. We need to avoid these local maximum points nearby minimum reflection points if we apply this structure to reflection control.

本誌: 2023年1月23日-2023年1月24日電磁界理論研究会-1

本誌掲載ページ: 11-16 p

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,052 Kバイト