サーマルレギュレーション回路におけるPTAT回路を用いたIC上の温度分布検知

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: ECT23003

グループ名: 【C】電子・情報・システム部門 電子回路研究会

発行日: 2023/01/23

タイトル(英語): Detection of temperature distribution on ICs using PTAT circuits in thermal regulation circuits.

著者名: 荒木 貴矢(明治大学),関根 かをり(明治大学),島田 義久(トレックス・セミコンダクター),大川 智(トレックス・セミコンダクター),福井 厚夫(トレックス・セミコンダクター)

著者名(英語): Takaya Araki(Meiji University),Kawori Sekine(Meiji University),Yoshihisa Shimada(TOREX SEMICONDUCTOR),Satoru Okawa(TOREX SEMICONDUCTOR),Atsuo Fukui(TOREX SEMICONDUCTOR)

キーワード: 弱反転領域動作|ＭＯＳＦＥＴ|温度特性|ＰＴＡＴ電圧発生回路|サーマルレギュレーション回路|subthreshold region|MOSFET|Temperature Characteristic|PTAT voltage generation circuit|thermal regulation circuit

要約(日本語): PTAT 電圧回路を温度センサとして高温を検知し、充電電池に流れる電流を小さくする構成のサーマルレギュレーション回路を基板実装してチップの測定を行った。熱源として回路内に配置したトランジスタの非発熱時と発熱時にて温度センサが正常に検知できるか確認した。次に発熱時間を変化させ表面温度の過渡応答や、熱源からの距離が異なる場所の温度の同時測定を行い、チップ上の温度分布を確認した。

要約(英語): A thermal regulation circuit that uses the PTAT voltage circuit as a temperature sensor to detect high temperatures was mounted on a board and the chip was measured. First, we confirmed that the temperature sensor could detect the temperature properly. Next, the transient response of the surface temperature and the temperature distribution on the chip were checked.

本誌: 2023年1月26日-2023年1月27日電子回路研究会

本誌掲載ページ: 13-18 p

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,280 Kバイト