パルス波による意図的な電磁妨害が暗号モジュールに与える影響の評価

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: EMC23001

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門 電磁環境研究会

発行日: 2023/02/25

タイトル(英語): Evaluation of Intentional Electromagnetic Interference Using Impulses on Cryptographic Modules

著者名: 西山 輝(奈良先端科学技術大学院大学),林 優一(奈良先端科学技術大学院大学)

著者名(英語): Hikaru Nishiyama(Nara Institute of Science and Technology),Yuichi Hayashi(Nara Institute of Science and Technology)

キーワード: 暗号モジュール|意図的な電磁妨害|Cryptographic Modules|Intentional Electromagnetic Interference

要約(日本語): 本稿では、パルス波による電磁妨害により暗号機器に一時的な故障を引き起こし、秘密鍵を抽出する脅威について検討を行う。実験では、評価対象機器上に実装された暗号モジュールの動作に同期してパルス波を印加することで一時的な故障を引き起こす。その際、パルス波の振幅値およびパルス幅を変化させ、鍵取得に必要となる故障の発生数を精度良く観測した。その結果、パルス波の振幅値およびパルス幅の増加に伴い、鍵取得に必要となる故障の発生数が増加することが確認された。加えて、本実験で得られた誤り出力から暗号処理に用いる秘密鍵が正しく取得可能であることを検証した。

要約(英語): This paper evaluates the threat of extracting secret keys by causing temporary faults in cryptographic devices due to intentional electromagnetic interference by impulses. In the experiment, we inject impulses synchronized with the operation of a cryptographic module implemented on the device under test. Then, the amplitude and pulse width of the impulses were altered, and the number of fault occurrences required for secret key extraction was precisely observed. As a result, we confirmed that the number of fault occurrences required for secret key extraction increased as the amplitude and width of the impulses increased. In addition, we demonstrated that the secret key used for cryptographic operations could be successfully extracted from the faulty outputs obtained by the experiment.

本誌: 2023年2月28日電磁環境研究会

本誌掲載ページ: 1-5 p

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,078 Kバイト