チョッパ回路連続動作時におけるIGBTのVCE(sat)と温度プロファイルの測定

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: PE23076,PSE23082,SPC23132

グループ名: 【B】電力・エネルギー部門 電力技術/【B】電力・エネルギー部門 電力系統技術/【D】産業応用部門 半導体電力変換合同研究会

発行日: 2023/03/03

タイトル(英語): Experimental measurement of VCE(sat) and temperature profile in an IGBT during continuous chopper circuit operation

著者名: 原 幹太(九州工業大学),長谷川 一徳(九州工業大学),宍戸 信之(近畿大学),齋藤 渉(九州大学),二宮 保(NPERC-J)

著者名(英語): Kanta Hara(Kyushu Institute Technology),Kazunori Hasegawa(Kyushu institute of Technology),Shinsuke Shishido(Kindai University),Wataru Saito(Kyushu University),Tamotu Ninomiya(NPERC-J)

キーワード: ＩＧＢＴ|ＶＣＥ（ｓａｔ）|劣化診断|温度プロファイル|連続運転試験|IGBT|VCE(sat)|degradation diagnosis|thermal profile|continuous operation

要約(日本語): 本論文ではIGBTの劣化診断を目的として、チョッパ回路連続動作におけるVCE(sat)測定環境を構築した。小型・低消費電力の特長を持つIoT開発キット「Leafony Basic kit2」を用いてVCE(sat)検出回路を作製した。チョッパ回路のIGBTモジュールにかかる電流・周波数を変化させ、各損失条件でのVCE(sat)から、IGBTモジュールの温度プロファイルを算出した。この温度プロファイルを用いることでIGBTの劣化時の熱抵抗計算が実現し、寿命予測が可能となる。

要約(英語): This paper presents VCE(sat) measurement of an IGBT module during continuous operation of a chopper circuit, which employs a compact and low-power IoT platform “Leafony” . Experimental results of VCE(sat) with different power losses provided a thermal profile of the IGBT module, which will enable lifetime estimation.

本誌: 2023年3月6日-2023年3月7日電力技術/電力系統技術/半導体電力変換合同研究会-4

本誌掲載ページ: 37-42 p

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 2,018 Kバイト