遺伝的アルゴリズムによる論理回路トポロジー探索手法の高性能化

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: ECT23018

グループ名: 【C】電子・情報・システム部門 電子回路研究会

発行日: 2023/03/20

タイトル(英語): Improving the Performance of Genetic Algorithm-Based Logic Circuit Topology Search Method

著者名: 佐藤 滉也(群馬大学),髙井 伸和(京都工芸繊維大学)

著者名(英語): Koya Sato(Gunma University),Nobukazu Takai(Kyoto Institute of Technology)

キーワード: 遺伝的アルゴリズム|デジタル回路|論理回路|Genetic Algorithm|Digital Circuit|Logic Circuit

要約(日本語): 近年、”スケーリング則”に基づきMOSFETの微細化が進められて来たが、物理的限界が近く、更なる高集積化へ向けた新たな技術が求められている。本論文では、遺伝的アルゴリズム(GA)による論理回路トポロジー探索手法を提案する。従来手法と比較し、遺伝的操作を並列化することで高速化を図った。また、ハイパーパラメーターの調整や、評価方法の改善により収束率の向上が見られた。

要約(英語): In this paper, we propose the logical circuit topology search method based on genetic algorithms. The proposed method achieves faster processing through parallelization compared to the conventional methods. In addition, we improved convergence by adjusting the hyperparameters of the genetic algorithm and enhancing the evaluation method.

本誌: 2023年3月23日-2023年3月24日電子回路研究会

本誌掲載ページ: 17-20 p

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,316 Kバイト