サブビンによるスペクトル測定のSD-OCT応用への基礎検討II

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: OQD23001

グループ名: 【C】電子・情報・システム部門 光・量子デバイス研究会

発行日: 2023/03/24

タイトル(英語): Basic Study of Spectral Measurement using Sub-bin on SD-OCTII

著者名: 川田 晃平(山形大学),増田 純平(山形大学),小坂 哲夫(山形大学),佐藤 学(山形大学)

著者名(英語): Kouhei Kawada(Yamagata University),Junpei Masuta(Yamagata University),Tetsuo Kosaka(Yamagata University),Manabu Sato(Yamagata University)

キーワード: サブビン|スペクトル測定|分解能|ＯＣＴ|sub-bin|spectral measurement|resolution|OCT

要約(日本語): サブビンによるスペクトル測定のSD-OCT応用への基礎検討II

要約(英語): Basic Study of Spectral Measurement using Sub-bin on SD-OCTII

本誌: 2023年3月27日光・量子デバイス研究会

本誌掲載ページ: 1-6 p

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 613 Kバイト