ミュオンを用いた精密計測：分光から干渉計へ

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: ECT23052

グループ名: 【C】電子・情報・システム部門 電子回路研究会

発行日: 2023/09/08

タイトル(英語): Precision Measurements Using Muons: From Spectroscopy to Interferometry

著者名: 神田 聡太郎(高エネルギー加速器研究機構)

著者名(英語): Sohtaro Kanda(High Energy Accelerator Research Organization)

キーワード: ミュオン|分光|原子干渉計|muon|spectroscopy|atom interferometer

要約(日本語): ミュオンは第二世代の荷電レプトンに分類される素粒子で、粒子加速器を用いて生成したパイ中間子の崩壊により量子ビームとして得ることができる。精密測定に適した性質を有し、基礎物理定数の決定および標準模型を超えた物理の探索に威力を発揮するプローブである。正ミュオンと電子の束縛系であるミュオニウムの高精度分光とその周辺、およびミュオニウムを用いた原子干渉計の構築について報告する。

要約(英語): Muon, classified as a second-generation charged lepton, can be obtained as a quantum beam through the decay of pions generated using particle accelerators. It possesses properties suitable for precise measurements and serves as a powerful probe for determining fundamental physical constants and exploring physics beyond the Standard Model. This contribution reports on high-precision measurements of the fundamental physical constants via muon spin spectroscopy, as well as the construction of an interferometer using muonium atoms.

本誌: 2023年9月11日電子回路研究会

本誌掲載ページ: 21-26 p

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,201 Kバイト