配線パターンの多種多様な欠陥を検出する外観自動検査アルゴリズム

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: IM23024

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門 計測研究会

発行日: 2023/11/06

タイトル(英語): Automatic visual inspection algorithm to detect a wide variety of defects in wiring patterns

著者名: 清水 和葉(群馬大学),伊藤 直史(群馬大学),荻原 智宣(東京測器研究所),江澤 俊介(東京測器研究所)

著者名(英語): Kazuha Shimizu(Gunma University),Tadashi Ito(Gunma University),Tomonori Ogihara(Tokyo Measuring Instruments Laboratory Co., Ltd.),Shunsuke Ezawa(Tokyo Measuring Instruments Laboratory Co., Ltd.)

キーワード: 外観検査|欠陥検出| Visual Inspection|Defect Detection

要約(日本語): 本研究の目的は、フラットベッドスキャナを用いた外観検査アルゴリズムの開発と改良により、配線パターンの目視検査を自動化することである。フラットベッドスキャナを用いて配線パターンをスキャンし、配線パターン上のホコリの除去を行い、配線パターンの輪郭から回帰直線を求め、不良判別を行った。

要約(英語): The objective of this study was to automate visual inspection of wiring patterns by developing and improving an algorithm for visual inspection using a flatbed scanner. As a method to determine defects, a regression line was obtained from the contour of the wiring pattern while removing dust on the wiring pattern.

本誌: 2023年11月9日-2023年11月10日計測研究会-1

本誌掲載ページ: 13-18 p

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 613 Kバイト