SHフィルムコンデンサの漏れ電流に内在水分が与える影響
SHフィルムコンデンサの漏れ電流に内在水分が与える影響
カテゴリ: 研究会(論文単位)
論文No: SA23083
グループ名: 【B】電力・エネルギー部門 静止器研究会
発行日: 2023/12/15
タイトル(英語): Effect of internal moisture on leakage current in SH film capacitors
著者名: 森川 泰志(指月電機製作所),桑田 哲也(指月電機製作所),米井 良太(指月電機製作所),前畑 安志(指月電機製作所)
著者名(英語): Taishi Morikawa(Shizuki Electric Co.,Inc.),Tetsuya Kuwada(Shizuki Electric Co.,Inc.),Ryota Yonei(Shizuki Electric Co.,Inc.),Yasushi Maehata(Shizuki Electric Co.,Inc.)
キーワード: 内部漏れ電流|熱暴走|短絡故障|内在水分|leakage current|thrmal runaway|short-curcuit failure|internal moisture
要約(日本語): 近年,xEV用のフィルムコンデンサは高電圧帯でのニーズが増えてきており,フィルム厚みに対する電界強度も高くなってきている。そのため,漏れ電流による発熱や熱暴走,短絡故障が懸念される。漏れ電流に影響を及ぼす因子はいくつか考えられるが,影響の大きい因子は内在水分であると考えられる。本稿では,フィルムコンデンサの漏れ電流に対する内在水分の影響を実験により検証したので報告する。
要約(英語): In recent years, SH type film capacitors have been used at higher voltages. Therefore, it is necessary to consider the adverse effects of direct current on heat generation and short circuit failures. This paper reports experimental results to confirm the effect of internal moisture on leakage current.
本誌掲載ページ: 1-5 p
原稿種別: 日本語
PDFファイルサイズ: 1,030 Kバイト
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