パルス電界印加による細胞膜破壊で発生するROSと細胞死の因果関係の調査

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: EPP24050

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門 放電・プラズマ・パルスパワー研究会

発行日: 2024/06/03

タイトル(英語): Investigation of the Causality between Cell Death and ROS Generated by Breakdown of Cell Membrane by Applying Pulsed Electric Field

著者名: 強瀬 隆慶(山形大学),中村 駿斗(山形大学),齋藤 高輝(山形大学),南谷 靖史(山形大学)

著者名(英語): Takayoshi Kowase(Yamagata University),Shunto Nakamura(Yamagata University),Koki Saito(Yamagata University),Yasushi Minamitani(Yamagata University)

キーワード: パルス電界|ＲＯＳ|酵母|細胞膜|細胞死|低周波|Pulsed Electric Field|Reactive Oxygen Species|Yeast|Cell Membrane|Cell Death|Low Frequency

要約(日本語): パルス電界殺菌では、細胞膜破壊が起きることで、内部組織が流出し細胞死すると考えられてきた。しかし抗酸化物質を含む青汁を電界殺菌したところ、印加時間を延ばしても殺菌率は向上しなかった。この結果から、細胞膜破壊時に発生した活性酸素種が細胞死に関与している可能性を考えた。そこで、活性酸素種を抑制できる抗酸化物質を添加した場合としなかった場合の両方にパルス電界を印加し、生存率と活性酸素種発生量を比較した。

要約(英語): On pulsed electric field (PEF) sterilization, it has been believed that cell death occurs through the shedding of internal tissues by destroying cell membrane. However, the sterilization of green juice by PEF suggested that reactive oxygen species (ROS) generated during cell membrane disruption may be the cause of cell death. Therefore, we compared the sterilization ratio by PEF with and without the addition of an antioxidant.

本誌: 2024年6月6日-2024年6月7日放電・プラズマ・パルスパワー研究会

本誌掲載ページ: 85-88 p

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 497 Kバイト