長時間の部分放電暴露による樹脂の浸食構造の変化

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: DEI24057

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門 誘電・絶縁材料研究会

発行日: 2024/06/22

タイトル(英語): Changes in Erosive Structure of Resin due to Long-term Partial Discharge Exposure

著者名: 竹内 健(三重大学),青木 裕介(三重大学),小迫 雅裕(九州工業大学),匹田 政幸(九州工業大学),伊藤 大貴(東芝産業機器システム),大山 公治(東芝産業機器システム),中前 哲夫(東芝産業機器システム),前田 照彦(東芝産業機器システム),尾崎 多文(東芝産業機器システム)

著者名(英語): Ken Takeuchi(Mie University),Yusuke Aoki(Mie University),Masahiro Kozako(Kyusyu Insitute of Technology),Masayuki Hikita(Kyusyu Insitute of Technology),Daiki Ito(Toshiba Industrial Products and Systems Co.),Kimiharu Oyama(Toshiba Industrial Products and Sy

キーワード: 部分放電劣化|模擬ボイド構造|Ｖ－Ｑリサジュー法|浸食構造|Degradation due to partial discharge exposure|artificial defect structure|V-Q Lissajous method|erosive structure evaluation

要約(日本語): 樹脂絶縁材料のボイドやクラックなどの欠陥によって発生する部分放電は、樹脂の劣化を引き起こし絶縁破壊に至る。我々は、欠陥模擬樹脂電極系を用いて、放電面積の変化と位相分解部分放電パターンから長期課電時の樹脂劣化の程度を明らかにすることを試みてきた。本論文では、前論文と同じ模擬欠陥電極系において、放電ネルギーの増加に伴う放電活動の変化と浸食構造の変化との相関を調べた結果を報告する。

要約(英語): In this paper, we report the results of our observation of the change in resin surface structure with increasing discharge exposure energy in the simulated defect electrode system, and the correlation between the change in discharge activity and the change in void surface structure._x000D_

本誌: 2024年6月25日誘電・絶縁材料研究会

本誌掲載ページ: 49-50 p

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,467 Kバイト