高電圧差動プローブの特性がパワエレ計測に与える影響に関する一検討

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: EMC24015,SPC24134

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門 電磁環境/【D】産業応用部門 半導体電力変換合同研究会

発行日: 2024/06/25

タイトル(英語): A Study on the Influence of High Voltage Differential Probe Characteristics on Power Electronics Measurement

著者名: 舟木 剛(大阪大学),井渕 貴章(大阪大学),福永 崇平(大阪大学)

著者名(英語): tsuyoshi funaki(Osaka univ.),takaaki Ibuchi(Osaka univ.),shuhei fukunaga(Osaka univ.)

キーワード: 高電圧差動プローブ|スイッチング|HV differential voltag probe|switching

要約(日本語): ワイドバンドギャップ半導体を用いた高電圧パワエレ回路において，スイッチング特性の評価には電位が浮いた構成要素の電圧測定が必要となる。近年様々な方式の高電圧差動プローブが利用可能となってる。本報告では種類の異なる複数の高電圧差動プローブを対象として，それらの特性を評価するとともに，パワエレ計測に与える影響について検討した結果を報告する。_x000D_

要約(英語): It is necessary to measure the voltage of floating components to evaluate switching characteristics in high-voltage power electronics circuits using wide-bandgap semiconductors. Various types of high voltage differential probes have become available recently. This report evaluates the characteristics of several different high voltage differential probes and discusses the results of their impact on power electronics measurements._x000D_

本誌: 2024年6月28日電磁環境/半導体電力変換合同研究会

本誌掲載ページ: 57-62 p

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,821 Kバイト