Reaction products and withstanding electric field properties of arc quenching air mixed with CH2O vapor decomposition -Comparison with other polymer vapors-

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: EPP24091,SP24032,HV24093

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門 放電・プラズマ・パルスパワー/【B】電力・エネルギー部門 開閉保護/【B】電力・エネルギー部門 高電圧合同研究会

発行日: 2024/11/16

タイトル(英語): Reaction products and withstanding electric field properties of arc quenching air mixed with CH2O vapor decomposition -Comparison with other polymer vapors-

著者名: 山本 伊織(名古屋大学),横水 康伸(名古屋大学),兒玉 直人(名古屋大学),大野 拓也(名古屋大学),江戸 貴広(三菱電機)

著者名(英語): Iori Yamamoto(Nagoya University),Yasunobu Yokomizu(Nagoya University),Naoto Kodama(Nagoya University),Takuya Ohno(Nagoya University),Takahiro Edo(Mitsubishi Electric Corp.)

キーワード: 高温ドライエア|ＰＯＭ|構成化学種|換算電子付着係数|換算衝突電離係数|High-temperature dry air|POM|Chemical composition|Reduced electron attachment coefficient|Reduced impact ionization coefficient

要約(日本語): 高分子材POMの分解蒸気CH2Oが混入した高温ドライエアについて述べている。CH2Oの混入によりCOやCO2，H2Oなどの分子が形成される．また，CH2O蒸気のモル分率YH2O=30%の混入により，特に4000 K-2000 Kで臨界換算電界Ecr/Nは10?30 Td上昇する．この上昇は主にH2Oの生成によるものである．YH2Oを50%または100%にまで増加させると，H2Oの生成量減少によりEcr/Nは低下する．さらに，CH2O，C2F4およびC6H4S蒸気を含む高温ドライエアのEcr/Nを比較し議論

要約(英語): This article examines high-temperature dry air with CH2O from POM. CH2O increases H2O formation and raises the critical reduced electric field strength Ecr/N by 10-30 Td at 30% concentration. Above 50%, the molar fraction of H2O decreases, causing Ecr/N to decrease. Furthermore, we compare and discuss the Ecr/N of high-temperature dry air containing CH2O, C2F4, and C6H4S vapors.

本誌: 2024年11月19日-2024年11月20日放電・プラズマ・パルスパワー/開閉保護/高電圧合同研究-2

本誌掲載ページ: 45-50 p

原稿種別: 英語

PDFファイルサイズ: 975 Kバイト