構成的学習における学習プロセス分析のためのレーベンシュタイン距離の応用的拡張とその有用性の検討

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: IS25034

グループ名: 【C】電子・情報・システム部門 情報システム研究会

発行日: 2025/05/12

タイトル(英語): An Extension of the Levenshtein Distance for Learning Process Analysis in Constructive Learning and an Evaluation of Its Effectiveness

著者名: 田辺 七海(広島工業大学),矢上 果林(広島工業大学),松本 慎平(広島工業大学)

著者名(英語): Natsumi Tanabe(Hiroshima Institute of Technology),Karin Yagami(Hiroshima Institute of Technology),Shimpei Matsumoto(Hiroshima Institute of Technology)

キーワード: 構成的プログラミング学習|学習ログ分析|レーベンシュタイン距離|論理的思考|Constructive Programming Learning|Learning Log Analysis|Levenshtein Distance|Logical Thinking

要約(日本語): 本研究では、構成的なプログラミング学習における学習ログ分析のために、レーベンシュタイン距離の応用的拡張を提案する。従来の距離指標では捉えきれなかった空欄やダミーカードの影響を考慮に入れることで、学習者の試行錯誤の質や論理的思考の有無をより詳細に評価可能となった。この手法により、総当たり的な行動と論理的構築の違いを明確化し、個別に適したフィードバックの提供を可能にする学習支援が期待される。

要約(英語): In this study, we propose an applied extension of the Levenshtein distance for analyzing learning logs in constructive programming learning. By incorporating the influence of blank and dummy cards―which conventional distance metrics fail to adequately capture―our method enables a more detailed evaluation of the quality of learners’ trial-and-error processes and the presence or absence of logical thinking. This approach clarifies the distinction between exhaustive trial behaviors and logically constructed problem-solving, thereby contributing to learning support systems that can provide more personalized and appropriate feedback.

本誌: 2025年5月15日-2025年5月16日情報システム研究会

本誌掲載ページ: 45-48 p

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,413 Kバイト