部分放電曝露下における樹脂絶縁材料の浸食挙動の定量的解析

カテゴリ：研究会(論文単位)

論文No：DEI25128

グループ名：【A】基礎・材料・共通部門 誘電・絶縁材料研究会

発行日：2025/12/9

タイトル(英語)：Quantitative Analysis of Erosion Behavior in Polymeric Insulating Materials under Partial Discharge Exposure

著者名：中村 陽央(三重大学),青木 裕介(三重大学),匹田　 政幸(九州工業大学),小迫 雅裕(九州工業大学),伊藤 大貴(東芝産業機器システム),大山 公治(東芝産業機器システム),中前 哲夫(東芝産業機器システム),前田 照彦(東芝産業機器システム),尾崎 多文(東芝産業機器システム)

著者名(英語)： Yo Nakamura(Mie University),Yusuke Aoki(Mie University),Masayuki Hikita(Kyushu Institute of Technology),Msahiro Kozako(Kyushu Institute of Technology),Daiki Ito( Toshiba Industrial Products and Systems Co, Ltd.),Kimiharu Oyama( Toshiba Industrial Products and Systems Co, Ltd.),Tetsuo Nakamae( Toshiba Industrial Products and Systems Co, Ltd.),Tetuhiko Maeda( Toshiba Industrial Products and Systems Co, Ltd.),Tamon Ozaki( Toshiba Industrial Products and Systems Co, Ltd.)

キーワード：部分放電,放電耐性の定量化,ポリイミド,ポリエチレンテレフタレート,エポキシレジン,Ｖ―Ｑリサジュー法, Partial Discharge,Quantitative Evaluation of Discharge Resistance,Polyimide,Polyethylene Terephthalate,Epoxy Resin,V–Q Lissajous Method

要約(日本語)：電圧・電子機器の樹脂絶縁材料は、長期にわたる高信頼性が求められる。部分放電（PD）は欠陥を起点に発生し、局所的なエネルギー集中により材料の化学・物理劣化を促進する。本研究では、PET、PI、EPの3種類の樹脂材料に対し、ボイド欠陥を模擬した試料を用いてPD曝露試験を行い、レーザー顕微鏡による浸食体積測定とFT-IR解析で表面・化学構造変化を評価した。

要約(英語)： Resin insulation materials in high-voltage and electronic devices require long-term reliability. Partial discharge (PD), originating from defects, induces localized energy concentration that accelerates chemical and physical degradation. In this study, PET, PI, and epoxy (EP) resins with simulated void defects were exposed to PD. Erosion volumes were measured by laser microscopy, and chemical structural changes were analyzed by FT-IR spectroscopy.

本誌：2025年12月12日誘電・絶縁材料研究会

本誌掲載ページ：21-25p

原稿種別：日本語

PDFファイルサイズ：8,765Kバイト