積分型SOIピクセル検出器によるX線イメージングとDAQ開発について

カテゴリ: 部門大会

論文No: 29pm3-PS-067

グループ名: 第32回「センサ・マイクロマシンとその応用システム」シンポジウム論文集

発行日: 2015/10/21

タイトル(英語): Development of SOI pixel detector and fast DAQ for X-ray imaging

著者名: 西村 龍太郎*{1}，新井 康夫{2}，三好 敏喜{2}，平野 馨一{2}，岸本 俊二{2}，橋本 亮{2}({1}総合研究大学院大学，{2}高エネルギー加速器研究機構)

キーワード: SOI,モノリシックシリコンセンサ,DAQ,ピクセルディテクタ,X線イメージング

要約(英語): The authors are developing the X-ray imaging system by using the SOI(Silicon-On-Insulator) Detector. SOI detectors are unique in which both silicon sensors and LSI readout circuits are implemented in a same Si chip. Here, results of X-ray Imaging at KEK PF and development work for the DAQ system will be reported.

PDFファイルサイズ: 1,532 Kバイト