Real-time Measurement of DNA Damage under X-ray Radiation by Silicon Nanotweezers Coupled with Microfluidic Cavity

カテゴリ: 部門大会

論文No: 7PM1-A-2

グループ名: 【E】平成25年電気学会センサ・マイクロマシン部門大会講演論文集

発行日: 2013/10/29

タイトル(英語): Real-time Measurement of DNA Damage under X-ray Radiation by Silicon Nanotweezers Coupled with Microfluidic Cavity

著者名: Po　Tsun Chiang (The University of Tokyo),Gregorie Perret (The University of Tokyo),Nicolas Lafitte (The University of Tokyo),久米村 百子 (The University of Tokyo),Laurent Jalabert (The University of Tokyo),Herve Guillou (The University of Tokyo),Collard Dominique (The University of Tokyo),藤田 博之 (The University of Tokyo),Thomas Lacornerie (University of Lille),Eric Lartigau (University of Lille),Cleri Fabrizio (University of Lille)

キーワード: MEMS|ナノピンセット|遺伝子|X線|マイクロ流体

要約(日本語): 放射線癌治療をより効果的にするため,放射線によるDNA損傷の機構の解明が必要である．本研究ではMEMSピンセットを道具として,X線が与えるDNA損傷を実時間で測定することを可能にした．DNA分子束を捕獲したMEMSピンセットの共振周波数を測り,DNA分子束の硬さを判別できる．DNA分子の損傷はその硬さに影響するため,分子束の硬さの変化は損傷の進行程度を示す．マイクロ流体デバイスを用い,X線によるDNA束の損傷を水中で測定できた．

要約(英語): To improve radiation therapy, the DNA degradation mechanisms under radiation should be studied. In this research we use silicon nanotweezers, one kind of MEMS devices for direct manipulation of DNA molecules, to detect the radiation-caused degradation. By measuring resonant frequency of tweezers capturing a DNA bundle under radiation, we monitored the damage-related stiffness change of DNA.

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