CIC導体内の素線軌跡を考慮したラップジョイント部における接触抵抗分布解析

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: ASC13018

グループ名: 【B】電力・エネルギー部門 超電導機器研究会

発行日: 2013/01/16

タイトル(英語): Analysis of Contact Resistance Distribution in a Wrap Joint Considering the Path of All Strands in CIC conductor

著者名: 森村 俊也(東北大学),荒井 大地(東北大学),宮城 大輔(東北大学),津田 理(東北大学),濱島 高太郎(八戸工業大学),谷貝 剛(上智大学),小泉 徳潔(日本原子力開発機構),布谷 嘉彦(日本原子力開発機構),高畑 一也(核融合科学研究所),尾花 哲浩(核融合科学研究所)

著者名(英語): morimura toshiya(Tohoku University),Arai Daichi(Tohoku University),Miyagi Daisuke(Tohoku University),Tsuda Makoto(Tohoku University),Hamajima Takataro(Hachinohe Institute of Technology),Yagai Tsuyoshi(Sophia University),Koizumi Norikiyo(Japan Atomic Energy Agency),Nunoya Yoshihiko(Japan Atomic Energy Agency),Takahata Kazuya(Japan National Institute for Fusion Science),Obana Tetsuhiro(Japan National Institute for Fusion Science)

キーワード: ＣＩＣ導体|ラップジョイント|撚り乱れ|素線軌跡|素線間接触抵抗|Cable-in-Conduit Conductor|Wrap Joint|Twist Disorder|Paths of Strands|Contact Resistance between Strands

要約(日本語): CIC導体は，多数の超電導素線から構成され，優れた特性を有する一方，様々な問題も報告されている。その原因のひとつに，銅スリーブを用いた導体同士のジョイント部における不均一な抵抗分布による偏流現象が考えられる。今回，CIC導体のジョイント部を模擬し，液体窒素温度下における各素線の抵抗値を実測し，抵抗分布を求めた。さらに，実測した素線軌跡から抵抗分布を解析し，実験結果と比較したところ，傾向が一致した。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 8,389 Kバイト