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MgB2大容量導体における素線変形に起因する特性劣化と拡張有限要素解析

MgB2大容量導体における素線変形に起因する特性劣化と拡張有限要素解析

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カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: ASC19021

グループ名: 【B】電力・エネルギー部門 超電導機器研究会

発行日: 2019/12/19

タイトル(英語): Investigation on critical current degradation caused by strand deformation in a MgB2 large-scale conductor with extended finite element method

著者名: 谷貝 剛(上智大学),平 萌人(上智大学),桑原 優介(上智大学),高尾 智明(上智大学),槙田 康博(高エネ研),新冨 孝和(高エネ研),駒込 敏弘(前川製作所),塚田 謙一(前川製作所),星野 昌幸(前川製作所),平野 直樹(核融合科学研究所),恩地 太紀(鉄道総合技術研究所),富田 優(鉄道総合技術研究所),宮城 大輔(千葉大学),津田 理(東北大学),濱島 高太郎(前川製作所)

著者名(英語): Tsuyoshi Yagai(Sophia University),Moeto Hira(Sophia University),Yusuke Kuwabara(Sophia University),Tomoaki Takao(Sophia University),Yasuhiro Makida(KEK),Takakazu Shintomi(KEK),Toshihiro Komagome(Mayekawa MFG),Kenichi Tsukada(Mayekawa MFG),Masayuki Hoshino(Mayekawa MFG),Naoki Hirano(NIFS),Taiki Onji(Railway Technical Research Institute),Masaru Tomita(Railway Technical Research Institute),Daisuke Miyagi(Chiba University),Makoto Tsuda(Tohoku University),Takataro Hamajima(Mayekawa MFG)

キーワード: MgB2|ラザフォードケーブル|SMES|凹み|クラック進展|拡張有限要素解析|MgB2|Rutherford Cable|SMES|Indentation|Crack Evolution|XFEM

要約(日本語): MgB2線材は、今後低コスト化と高性能化が進み、その臨界磁場特性からNbTi線と同等の背景磁場での応用が期待される。本グループでは、SMESの大容量化を目的にラザフォードケーブルおよびコイルの設計・製作を行い、ヘリウム中試験を行ってきた。その中で、曲げ歪みでは予測できない特性劣化が観測され、素線の凹みによるNbバリアのき裂が原因と考えられた。き裂進展の有限要素解析と共に報告する。

要約(英語): We have been designed and tested Rutherford cables and coils cooled by liquid helium as feasibility study of MgB2 SMES application. The demonstrations showed unpredictable deterioration of Ic characteristic, which could be caused by crack evolutions of Nb barrier covering MgB2. The XFEM analysis showed the possibility of crack evolution as well.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,774 Kバイト

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