静電気試験器の接触放電に対する磁界誘導波形の測定

カテゴリ: 部門大会

論文No: VI-5

グループ名: 【A】平成20年電気学会基礎・材料・共通部門大会講演論文集

発行日: 2008/08/21

著者名: 戸谷史彦 (名古屋工業大学),高義礼 (名古屋工業大学),藤原修 (名古屋工業大学),石上忍 (情報通信研究機構),山中幸雄 (情報通信研究機構)

キーワード: 静電気試験器| 接触放電| 誘導電圧波形

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