商品情報にスキップ
1 1

光ヘテロダイン干渉法を用いた教育用模擬CT像の検討

光ヘテロダイン干渉法を用いた教育用模擬CT像の検討

通常価格 ¥440 JPY
通常価格 セール価格 ¥440 JPY
セール 売り切れ
税込

カテゴリ: 部門大会

論文No: XIX-2

グループ名: 【A】平成20年電気学会基礎・材料・共通部門大会講演論文集

発行日: 2008/08/21

著者名: 小倉泉 (首都大学東京),乳井嘉之 (首都大学東京),安部真治 (首都大学東京),根岸徹 (群馬県立県民健康科学大学),篠田之孝 (日本大学),圓谷光徳 (日本大学),伊達紀彦 (日本大学),肥後尚志 (日本大学)

キーワード: 教育用実験システム| 模擬CT像| 光ヘテロダイン干渉法| 教育支援システム

PDFファイルサイズ: 792 Kバイト

販売タイプ
書籍サイズ
ページ数
詳細を表示する