電子ビーム照射による微細層がCuCr合金の絶縁破壊特性に与える影響の調査

カテゴリ: 部門大会

論文No: B-8

グループ名: 【A】平成22年電気学会基礎・材料・共通部門大会講演論文集

発行日: 2010/09/13

著者名: 浅利直紀 (東芝),佐々木遥 (東芝),塩入哲 (東芝),田中明 (東芝),本間三孝 (東芝)

キーワード: 真空| 絶縁破壊| ＣｕＣｒ| 電子ビーム

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