時間分解顕微SHG測定によるペンタセンFETのトラップキャリアの評価

カテゴリ: 部門大会

論文No: III-1

グループ名: 【A】平成23年電気学会基礎・材料・共通部門大会講演論文集

発行日: 2011/09/21

著者名: 田中康之 (東京工業大学),間中孝彰 (東京工業大学),岩本光正 (東京工業大学)

要約(日本語): ペンタセンFETでは、トラップの存在により電流-電圧特性の履歴や移動度のゲート電圧依存性が現れる。そこで、電界誘起光第2次高調波を用いて、キャリア輸送に伴う電界分布を評価し、トラップの影響を検討した。

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