熱・放射線同時劣化させた架橋ポリエチレンのテラヘルツ分光

カテゴリ: 部門大会

論文No: XVIII-1

グループ名: 【A】平成23年電気学会基礎・材料・共通部門大会講演論文集

発行日: 2011/09/21

著者名: 小松麻理奈 (早稲田大学),佐藤遼 (早稲田大学),大木義路 (早稲田大学),水野麻弥 (情報通信研究機構),福永香 (情報通信研究機構)

キーワード: テラヘルツ光| ケーブル絶縁体| 非破壊診断| 架橋ポリエチレン| 放射線劣化

要約(日本語): ケーブルの高分子絶縁材料は、高温や放射線にさらされると劣化する。本稿ではケーブル絶縁体の劣化を、テラヘルツ分光により非破壊診断する可能性について、基礎的検討を行った。試料として、100 ℃および155 ℃で、熱劣化および60Coγ線により照射劣化させた架橋ポリエチレンを用い、時間領域分光透過法により吸光度を測定した。この結果、酸化劣化が原因と思われるスペクトル形状の変化を観測できた。

PDFファイルサイズ: 687 Kバイト