多変量解析による受変電機器の余寿命診断

カテゴリ: 部門大会

論文No: XX-7

グループ名: 【A】平成23年電気学会基礎・材料・共通部門大会講演論文集

発行日: 2011/09/21

著者名: 村山聖子 (東芝),藤堂洋子 (東芝)

キーワード: 多変量解析

要約(日本語): 受変電機器の故障を余知することは難しく、設備余寿命を定量的に評価する技術が求められている。交換が困難な絶縁材料の劣化状態を把握し、余寿命を診断することによって、機器の更新時期の目安をつけることが可能となる。絶縁材料は酸化劣化、汚損湿潤による表面層の絶縁低下で劣化することに着目し、表面特性を調査し、多変量解析を用いて絶縁劣化状態を評価、機器の余寿命を定量的に診断する技術を確立した。

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