エージング試験終了後の電気二重層キャパシタの劣化要因の検討

カテゴリ: 部門大会

論文No: V-6

グループ名: 【A】平成24年電気学会基礎・材料・共通部門大会講演論文集

発行日: 2012/09/20

著者名: 籾木崇 (宮崎大学),春田篤二 (宮崎大学),田口幹雄 (宮崎大学),田島大輔 (宮崎大学)

キーワード: 電気二重層キャパシタ| 劣化

要約(日本語): 長期加速劣化試験後の電気二重層キャパシタを用いて劣化要因の検討を行った。雰囲気温度や充電電圧などの条件を変化させ劣化試験を行い、静電容量及び内部抵抗を測定した。その後セルを分解し各種分析を行った。結果、温度と充電電圧が大きくなるにつれ静電容量変化率と内部抵抗率が大きく変化することを確認した。また、各種分析を行った結果においても温度や充電電圧などの条件の違いよって異なる影響が確認できた。

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