磁粉探傷試験におけるき裂定量評価の検討

カテゴリ: 部門大会

論文No: VIII-5

グループ名: 【A】平成24年電気学会基礎・材料・共通部門大会講演論文集

発行日: 2012/09/20

著者名: 福岡克弘 (滋賀県立大学),川越一平 (滋賀県立大学)

キーワード: 非破壊検査| 磁粉探傷試験| 定量的評価| 数値解析| 漏洩磁束密度

要約(日本語): 非破壊検査手法の一つである磁粉探傷試験は、微小なき裂を検出できるが、き裂の定量的評価手法は未だ確立されていない。本研究では、磁粉探傷試験におけるき裂定量評価手法の開発を検討した。高速度カメラを用いて磁粉付着過程を計測し、き裂形状と付着磁粉量の関係を把握した。また、漏洩磁束密度の計測および数値解析により、き裂形状と漏洩磁束密度の関係を把握した。

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