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熱・放射線同時劣化架橋ポリエチレンのテラヘルツスペクトル

熱・放射線同時劣化架橋ポリエチレンのテラヘルツスペクトル

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カテゴリ: 部門大会

論文No: XV-7

グループ名: 【A】平成24年電気学会基礎・材料・共通部門大会講演論文集

発行日: 2012/09/20

著者名: 小松麻理奈 (早稲田大学),大木義路 (早稲田大学),水野麻弥 (情報通信研究機構),福永香 (情報通信研究機構)

キーワード: テラヘルツ光| ケーブル絶縁体| 架橋ポリエチレン| 放射線劣化| 熱劣化| 酸化

要約(日本語): ケーブルの高分子絶縁材料は、高温や放射線にさらされると劣化する。本稿ではケーブル絶縁体の劣化が、テラヘルツ分光スペクトルに与える影響について、基礎的検討を行った。化学架橋ポリエチレンを100 ℃で加熱しながら60Coγ線を照射し、テラヘルツ時間領域分光透過法により吸収スペクトルを測定し、種々の機器分析測定結果と比較した。この結果、酸化が原因と思われる変化がスペクトルに現れることが分かった。

PDFファイルサイズ: 1,809 Kバイト

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